2021年9月9日-2021年9月11日,为期三天的PCIM Asia 2021在深圳国际会展中心圆满落幕。PCIM展***次在深圳举办,展览面积达10000平方米,102家参展商参与本次盛会。作为PCIM展会长期的合作伙伴,易恩电气积极参与PCIM展会。易恩电气展位为11号馆B21号,同时携各产品系列参展,向来访者展示西安易恩电气在技术和产品上的成果,与业内人士交流互动产品和应用技术。 易恩电气此次展出的设备是“功率器件图示系统”,可用于Si、SiC、GaN等材料的半导体器件测试分析,系统可测试器件的静态参数、输出和转移曲线等,扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。同
SiC功率器件的电学性能测试主要包括静态、动态、可靠性、极限能力测试等,其中:(1)静态测试:通过测试能够直观反映 SiC 器件的电学基本性能,可简单评估器件的性能优劣。各种静态参数为使用者可靠选择器件提供了非常直观的参考依据、同时在功率器件检测维修中发挥了至关重要的作用。小编推荐一款SiC静态参数测试系统ENJ2005-C,该设备可测试各类型Si·二极管、Si·MOSFET、Si·IGBT和SiC·二极管、SiC·MOSFET、SiC·IGBT等分立器件的静态参数,系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。(2)动态测试:主要测试 SiC 器件在开通关断