| 加工定制：否 | 品牌：半导体 | 型号：EN-3020C |
| 类型：电参数测试仪 | 测量范围：IGBT，DIODE | 精确度：0.1mA |
| 适用范围：电参数 |
1.1 系统概述
EN—3020C测试系统（以下简称系统）是西安易恩电气科技有限公司推出的IGBT静态测试系统，该系统符合国军标GJB128-86和***GB/T 4587-94测试规范。
系统适合工厂、研究所用做IGBT及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试，是一款针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统。
系统标准功率源为3500V/200A，电流可扩展至2000A。
系统的自动化程度高，按照操作人员设定的程序自动工作，实现全自动化的智能测试，计算机记录测试结果，测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储。测试方法灵活，可***测试器件以及单个单元和多单元的模块测试。
系统采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点
系统安全稳定，PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁。
1.2 测试范围
EN-3020C系统是专为测试IGBT而设计。能够真实准确测试出IGBT的各种静态参数：其测试范围如下：
1）栅极-发射极漏电流测试 VGES、IGES
2）栅极-发射极阈值电压测试 Vge（th）
3）集电极-发射极电压测试测试 VCES、ICES
4）集电极-发射极饱和电压测试测试 Vge（sat）、IC
5）二极管压降测试测试 VF、IF
6）二极管反向可恢复直流电压测试 VR、IR
1.3 外形尺寸和电源要求
尺 寸：800×800×1800（mm）
质 量：210kg
环境温度：15~40℃
工作电压：AC220V±10%无严重谐波
电网频率：50Hz±1Hz
通信接口： USB RS232
系统功耗： 380W
1.4参数/条件
参数/条件 | ||||||
参 数 | ENJ 35200 IGBT | ENJ 30200 IGBT | ||||
静态参数自动测试系统 | 静态参数手动测试系统 | |||||
条 件 | ||||||
①栅极-发射极漏电流IGES | ||||||
IGES: 0.1-10uA±3%±0.1uA | ||||||
集电极电压VCE: 0V | ||||||
栅 极 电 压 VGE: 20V ±3%±0.2V | ||||||
②集电极-发射极电压BVCES | ||||||
集电极电压VCES: 100-3500V±5%±10V（选配） | ||||||
集电极电流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA | 100-3500V±5%±10V | 100-3000V±5%±10V | ||||
栅 极 电 压 VGE: 0V | ||||||
③集电极发射极饱和电压VCESAT | ||||||
VCESAT:0.1-10V | ||||||
栅极电压 V G E : ±15V±2%±0.2V | ||||||
集电极电流ICE: 10-200A±5%（选配） | 10-200A±5% | 10-200A±5% | ||||
④集电极-发射极截止电流ICES | ||||||
集电极电流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA | 100-3500V±5% | 100-3000V±5% | ||||
集电极电压VCE: 100-3500V±5%（选配） | ||||||
栅 极 电 压V G E : 0V | ||||||
⑤栅极-发射极阀值电压测试VGETH | ||||||
VGETH: 0.1-10V±3%±0.1V | ||||||
VGE=VCE | ||||||
集电极电流ICE: 30mA±3% | ||||||
⑥二极管压降测试VF | ||||||
VF: 0.1-5V±3%±0.01V | ||||||
栅极电压VGE: 0V | ||||||
电 | 流 I F : 10-200A±5%（选配） | 10-200A±5% | 10-200A±5% | |||
导通电流 IC: 10-200A±5% | ||||||
栅极电压VGE:±15V±0.2V | ||||||
